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"PM-8 "验证模块的组成 频率比较器 ChK7-1011； 通用频率计 Ch3-89； 变压电压表 VK3-78A； 通用电压表 V7-81； 交流电压校准器 H5-5； 高频信号发生器 G4-227； 高频信号发生器 G4-229； 高频信号发生器 G4-230； 吸收功率瓦特计 M3-108； 衰减测量装置 D1-24/1； 分步衰减测量装置 D1-25； 计算调制表 SK3-49； 谐波系数校准器 SK6-20； 频谱分析仪 SK4-"Belan 240"； 全景驻波比仪 R2-135； 全景驻波比仪 R2-137； 传输系数示例测量装置 H3-7； 示波器 S1-157/4； 直流电源 B5-79/1； 交流源 B2-7（2 个）； 微波信号电子配电盘； 电脑、打印机； 基本承重结构 (BBS)。 技术特点 电气量测量范围： 3 µV 至 1000 V 的直流电压 频率范围为 10 Hz ... 2000 MHz 的交变电压，从 10 mV 到 100 V 0.001 Hz 至 17.85 GHz 的连续电磁振荡频率 频率范围为 20 MHz ... 17.85 GHz 的连续电磁振荡功率，从 0.8 到 10 mW 频率范围为 0.1 MHz ... 17.85 GHz 的电磁振荡衰减，范围为 0 至 120 dB 驻波比，频率范围 0.2 ... 17.85 千兆赫，1.03 至 2 谐波系数，频率范围 10 Hz ... 8 GHz，从 0.005 到 100% 载波频率范围 100 kHz ... 17.85 GHz 内的振幅调制因数，从 0.1 到 100 % 不等 载波频率范围 100 kHz ... 17.85 GHz 时的频率偏差（5 Hz 至 1 MHz 载波频率范围 100 kHz ... 17.85 GHz 内的相位调制指数 ... 1 至 100 弧度 频率范围为 0.1 MHz ... 17.85 GHz 的两次谐波信号之间的相移 0 至 360o 电气量的再现范围： 频率范围为 10 Hz ... 2000 MHz 的交流电压，从 3 µV 到 3 V 50 欧姆负载上的谐波（正弦）信号，频率范围为 0.001 Hz ... 30 MHz，电压范围为 0.01 至 5 V。 频率范围为 9 kHz ... 17.85 GHz 的连续电磁振荡，负 120 至 13 dBm 参考频率信号 5 和 10 MHz 频率范围 0 ... 3 GHz 的电磁振荡减弱 0 至 86 dB 电气量测量误差： 直流电压 ± (0.0025 ... 16.7) % 频率范围 10 Hz... 2000 MHz 的交变电压 ± (0,2 ... 16) % 连续电磁振荡频率 ± (2-10-7 ... 4-10-3) 频率范围 20 MHz ... 17.85 GHz 的连续电磁振荡功率 ± (4 ... 6) % 频率范围为 0.1 MHz ... 17.85 GHz 的电磁振荡衰减 ± (0.01 ... 1.2) dB 驻波比，频率范围 0.2 ... 17.85 千兆赫 ± (3 ... 5) K 频率范围 10 Hz ... 8 GHz 的谐波系数 ± (0.005 ... 6) % 载波频率范围 100 kHz ... 17.85 GHz ± (0.1 ... 9) % 的振幅调制因数 载波频率范围内的频率偏差 100 kHz ... 17.85 GHz ± (0.2 ... 80) Hz 载波频率范围内的相位调制指数 100 kHz ... 17.85 GHz ± (0.02 ... 5) 弧度 在 0.1 MHz ... 17.85 GHz ± (0.01 ... 0.08) o 频率范围内两次谐波信号之间的相移 电气量的再现误差： 频率范围为 10 Hz ... 2000 MHz 的交流电压 ± (0.16 ... 10) % 频率范围为 0.001 Hz ... 30 MHz 的 50 欧姆负载上的谐波（正弦）信号 ± (3 ... 5) %； 频率范围为 9 kHz ... 17.85 GHz 的连续电磁振荡 ± (0.5 ... 3) dB 参考频率信号 5 和 10 MHz ± (2-10-11 至 2.4-10-10) 频率范围 0 ... 3 GHz 的电磁振动衰减 ± (0.2 ... 1.4) dB 一般技术特性： 模块占用面积 6 - 12 平方米 重量不超过 550 千克 电源电压 198 至 242 V，频率 (50 ± 0.5) Hz 功耗，不超过 3000 VA"。

入门级扫描探针显微镜(SPM) 沿X、Y、Z轴进行平面平行扫描，可以获得表面的图像，并以最小的失真和信息损失进行后续的图像编辑; 扫描头的开放式设计允许以0-90°的角度观察测试样品的表面，安装额外的装置和设备; 模块化配置可以将Certus Light扫描探针显微镜安装在传统的光学显微镜上（直立式或倒置式），并与光学仪器相结合，升级为Certus标准版、Certus光学版和Centaur版本

紧凑的尺寸 全自动化系统 原创光谱仪设计 装置具有最小光学损失的高亮度 共焦电路根据原始设计图制成，提供了紧凑的尺寸和光学元件的最小漂移 内置的光学显微镜提供寻找测量点的简单方法 设计中使用了精密的机械部件和光学元件. 它既可用于工业实验室，也可用于研究型大学。

设计用于通过经典光学显微镜，共焦激光显微镜，共焦光谱学和扫描探针显微镜（原子力显微镜）的方法对物质表面的特征进行复杂的研究。 它可以获得完整的拉曼（Raman或Raman CR）散射和/或荧光光谱、共焦激光和共焦光谱图像（表面绘图）和SPM（AFM）图像。 Centaur u的设计可以使用单独的技术（例如，共焦显微镜/光谱学）和技术的组合（包括联合扫描场，AFM/拉曼研究等）。

扫描探针显微镜（SPM），配备专用的探针支架和必要的光学设备，用于近场研究。 近场光学显微镜是基于利用近场（蒸发场）的特性，来克服经典光学显微镜的衍射限制。 所有近场显微镜都包含几个基本设计元素: 探针; 沿着二维(X-Y)或三维(X-Y-Z)在样品表面移动探针的系统(扫描系统); 注册系统; 光学系统。

NT-MDT光谱仪器是为红外光谱范围设计的INTEGRA纳米红外散射扫描近场光学显微镜（r–扫描进场显光学显微镜）。 原子力显微镜探针位于光学系统的焦点中，该光学系统将IR激光辐射引导到样品并收集光学响应。 收集到的辐射被送到迈克尔逊干涉仪进行光学分析。 通过同步检测抑制采集信号的远场分量。 INTEGRA Nano IR系统允许检测近场信号的幅度和相位。 产生的反射和吸收对比的空间分辨率约为10nm，仅由探针尖端的大小决定。

组合选择性双通道地雷探测器"PPO-3"旨在探测金属和非金属炮弹中的工程弹药，以及位于非导电介质（土壤，雪，淡水等）中的各种尺寸的金属和非金属物体。). 该设备可以作为金属探测器（MD），作为探地雷达（GRL），作为有线控制线（DL）的探测器，以及组合模式（金属探测器和georadar一起）。

雷达探测器是采用GPR技术开发的设备，设计 通过无线电透明屏障（砖，钢筋混凝土，木制等）扫描时检测移动物体。 通过运动和呼吸; 用于进行搜索操作，以便检测缓存，缓存，隧道，地下通道和通信，犯罪埋葬，爆炸物书签。

扫描探针显微镜 Certus Light V是扫描探针显微镜的一个紧凑版本，具有最低的功能和成本。 与基本版本Certus Light的主要区别在于样品扫描和更精确的供应系统。 该设备由读取悬臂状态的磁头，多功能平面扫描仪，供应系统和磁头安装组成。 该装置的操作是直接由主体中内置的最小配置的电子控制的，即该设备是单体设备。它可以通过平板电脑使用Android操作系统的专用软件进行远程控制。

组合式选择性双通道地雷探测器PPO-2I旨在探测金属和非金属外壳中的工程弹药，以及位于非导电介质（土壤，雪，淡水等）中的各种尺寸的金属和非金属). 该设备可以作为金属探测器，作为探地雷达，以及以组合模式（联合金属探测器和探地雷达）工作。 该设备根据有色金属/黑色金属的特性提供金属物体的选择。

平面平行扫描压电片。 该装置是一个整体的金属体（由优质合金制成，通常是铝），其中压电陶瓷致动器、可移动工作台元件等的通道是通过电蚀和其他精密加工方法形成的。这种设计提供了出色的线性和运动的平面性，不同于传统的压电扫描仪，后者的扫描面是一个球体。此外，与脆弱的压电管相比，平面平行扫描器在机械上很坚固。