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主要技术特点 波长范围，400-940 nm 范围由具有以下辐射波长的一组离散Led提供，400nm, 440, 470, 525, 590, 670, 770, 880, 940 测量范围: -SKNP, %; -光密度，B 控制范围: -光密度，B -浓度，单位conc。 1-100 0,03 -2 2 - 3 0,001-9999 SCNP测量中允许绝对误差的极限，±1% 测量光密度时允许绝对误差的限制: -在0.03至0.5b的范围内，B -在从0.51到1.09b，B的范围内 -在范围从1.1到2.0b，B ± 0,015 ± 0,045 ± 0,45 光度计由: -通过网络适配器从AC网络 -来自自主电源 电压220±22V 频率50.0±0.5Hz 四节AA电池，每节1.5v; 四节AA电池，每节1.2v 光度计消耗的功率，不超过7V*A 外形尺寸，不超过240x200x100mm 重量，不超过1.6公斤

通用实验室IR傅里叶光谱仪FSM2201和FSM2202设计用于光谱中红外区域的科学研究和分析测量。 定性和定量分析气态，液态和固态的有机和无机物质样品，包括薄膜和粉末。 傅立叶光谱仪FSM2201/2202基于迈克尔逊干涉仪，具有自补偿功能，不需要动态调整。 光谱仪配有干燥空气或氮气吹扫系统，以最大限度地减少水蒸气和二氧化碳的光谱干扰，并具有光学窗口和分束器的防潮涂层。 仪器控制、自我测试、配准、分析和光谱处理的操作是自动化的，并使用个人计算机和由公司专家为Windowsxp/Vista环境开发的已安装的FSpec基本软件进行/7/8/10 ... 该程序具有直观的用户界面，允许您创建自己的fsm光谱仪上获得的光谱库，以及使用标准库并使用格式*的光谱。spe，*。spc，*。dx，*。asc。 频谱处理包括基本的数学运算和变换，搜索谱线和确定其参数。 根据标准方法工作：GOST、ASTM、EN、SEMI或在分析仪模式下进行测量，附加的软件模块与"按钮"控制的设备，附加的设备，内置的测量算法和校准被加载到FSpec平台。 该装置的通用性是通过在其比色皿室中安装各种气体和液体比色皿、光学附件和装置的可能性来确保的,从而可以研究液体、固体和气体样品。 FSM2201/2202型号的红外傅里叶光谱仪与之前生产的型号（FSM1201/1202）不同之处在于，其信噪比更高，比色皿更大。

MS-BIO - 硬件质谱联用仪，专为有机样品中同位素比值的热测量而设计

KFK-3-01的特点 分配的光谱范围为5-7nm SCNP测量范围1-99 % 光密度测量范围0.004-2b SCNP读数范围为0.1-120 % 光密度读数范围为0-3b 浓度读数范围为0.001-9999单位。 conc

入门级扫描探针显微镜(SPM) 沿X、Y、Z轴进行平面平行扫描，可以获得表面的图像，并以最小的失真和信息损失进行后续的图像编辑; 扫描头的开放式设计允许以0-90°的角度观察测试样品的表面，安装额外的装置和设备; 模块化配置可以将Certus Light扫描探针显微镜安装在传统的光学显微镜上（直立式或倒置式），并与光学仪器相结合，升级为Certus标准版、Certus光学版和Centaur版本

紧凑的尺寸 全自动化系统 原创光谱仪设计 装置具有最小光学损失的高亮度 共焦电路根据原始设计图制成，提供了紧凑的尺寸和光学元件的最小漂移 内置的光学显微镜提供寻找测量点的简单方法 设计中使用了精密的机械部件和光学元件. 它既可用于工业实验室，也可用于研究型大学。

筛分分析仪旨在确定样品制备过程中的粒度分布。产生一定幅度的高频冲击的元件是振动驱动；执行机构 - 一组带有托盘和盖子的筛子，根据确定颗粒尺寸等级的要求而形成。

设计用于通过经典光学显微镜，共焦激光显微镜，共焦光谱学和扫描探针显微镜（原子力显微镜）的方法对物质表面的特征进行复杂的研究。 它可以获得完整的拉曼（Raman或Raman CR）散射和/或荧光光谱、共焦激光和共焦光谱图像（表面绘图）和SPM（AFM）图像。 Centaur u的设计可以使用单独的技术（例如，共焦显微镜/光谱学）和技术的组合（包括联合扫描场，AFM/拉曼研究等）。

扫描探针显微镜（SPM），配备专用的探针支架和必要的光学设备，用于近场研究。 近场光学显微镜是基于利用近场（蒸发场）的特性，来克服经典光学显微镜的衍射限制。 所有近场显微镜都包含几个基本设计元素: 探针; 沿着二维(X-Y)或三维(X-Y-Z)在样品表面移动探针的系统(扫描系统); 注册系统; 光学系统。

NT-MDT光谱仪器是为红外光谱范围设计的INTEGRA纳米红外散射扫描近场光学显微镜（r–扫描进场显光学显微镜）。 原子力显微镜探针位于光学系统的焦点中，该光学系统将IR激光辐射引导到样品并收集光学响应。 收集到的辐射被送到迈克尔逊干涉仪进行光学分析。 通过同步检测抑制采集信号的远场分量。 INTEGRA Nano IR系统允许检测近场信号的幅度和相位。 产生的反射和吸收对比的空间分辨率约为10nm，仅由探针尖端的大小决定。

扫描探针显微镜 Certus Light V是扫描探针显微镜的一个紧凑版本，具有最低的功能和成本。 与基本版本Certus Light的主要区别在于样品扫描和更精确的供应系统。 该设备由读取悬臂状态的磁头，多功能平面扫描仪，供应系统和磁头安装组成。 该装置的操作是直接由主体中内置的最小配置的电子控制的，即该设备是单体设备。它可以通过平板电脑使用Android操作系统的专用软件进行远程控制。

平面平行扫描压电片。 该装置是一个整体的金属体（由优质合金制成，通常是铝），其中压电陶瓷致动器、可移动工作台元件等的通道是通过电蚀和其他精密加工方法形成的。这种设计提供了出色的线性和运动的平面性，不同于传统的压电扫描仪，后者的扫描面是一个球体。此外，与脆弱的压电管相比，平面平行扫描器在机械上很坚固。