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该支架允许在FSM光谱仪中使用Specord型比色皿，并具有适当的连接尺寸。

DT13支架设计为通过直径为13mm的片剂的机械夹具固定，从粉末状固体样品和KBr晶体的混合物中压缩。

直径为40mm的窗口用于液体比色皿KR20和气体比色皿KG01。

它用于测量厚度在纳米范围内的非常薄的涂层，并研究单分子层。

它旨在测量固体样品的反射率，并通过入射角接近法线的反射来分析涂层。 借助该前缀，可以确定光学元件、抗反射涂层等的反射率。

对于气体比色皿KG48，使用直径为22mm的窗口。 您可以从KBr和CaF2购买windows。

Cuvette PC50-75的支架专为安装而设计: 石英比色皿SF型支架DC10-10; 石英比色皿型KFK在支架DC KFK; 可折叠比色皿KR1, 可折叠比色皿KR20, 电影 支架，平板电脑 夹持器、固体样品夹持器。

为了在FSM光谱仪中安装CFK类型的石英比色皿，使用DC CFK支架，其具有标准的50x75mm连接杆，用该连接杆将其插入红外傅里叶光谱仪FSM的PK50-75比色皿的

控制台设计用于在透射或反射模式下控制直径达200mm的半导体晶片的参数。 板材的参数通过高度敏感的非接触式方法在操作员指定的点进行控制。

设计用于研究液体介质、精细非研磨性粉末和聚合物薄膜的化学成分。 多次扰动全内反射的方法使得可以显着简化样品的制备，并可用于实施产品质量控制的快速方法。

DT13支架设计为通过直径为13mm的片剂的机械夹具固定，从粉末状固体样品和KBr晶体的混合物中压缩。

95-100%范围内的高精度氢浓度测量 监测发电机氢气冷却过程、化学、石化、冶金和其他工业过程中的电解器运行、氢气纯度控制 俄罗斯交货24个月保修新专利计量方法, 仪器不需要校准 测量选择性 分子氢测量的直接方法 对水分、二氧化碳、油气不敏感 测量时间 3-5分钟 简单、清晰的界面 最低限度的维护 自我诊断 例行维护一年不超过一次 耐用的高稳定性传感器 传感器寿命至少10年 彩色触摸屏