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Prefix旨在与IR傅里叶光谱仪FSM一起测量光谱中近红外区域的散射表面和分散样品的漫反射光谱。

控制台设计用于在透射或反射模式下控制直径达200mm的半导体晶片的参数。 板材的参数通过高度敏感的非接触式方法在操作员指定的点进行控制。

技术规格: 放电脉冲的持续时间为150微秒... 恒定的电弧。 频率50...250赫兹 极性直接，反向，双极 测量浓度范围 0.001%-10% 材料中的元素 相对误差（取决于0.5％。 从浓度）0%

DT13支架设计为通过直径为13mm的片剂的机械夹具固定，从粉末状固体样品和KBr晶体的混合物中压缩。

设计用于研究液体介质、精细非研磨性粉末和聚合物薄膜的化学成分。 多次扰动全内反射的方法使得可以显着简化样品的制备，并可用于实施产品质量控制的快速方法。

Cuvette PC50-75的支架专为安装而设计: 石英比色皿SF型支架DC10-10; 石英比色皿型KFK在支架DC KFK; 可折叠比色皿KR1, 可折叠比色皿KR20, 电影 支架，平板电脑 夹持器、固体样品夹持器。

前缀被设计用于测量样品在光谱的近红外区域的吸收光谱在范围内4 000 — 12 500 sm-1连同IR傅里叶光谱仪FSM1211。 利用近红外区域，能够对医药、化工、高分子、纺织、食品、农业等行业进行鉴定和定量分析。 BIC分析法允许您研究粉末，粉碎和纤维材料等。

它旨在测量固体样品的反射率，并通过入射角接近法线的反射来分析涂层。 借助该前缀，可以确定光学元件、抗反射涂层等的反射率。

为了在FSM光谱仪中安装SF型石英比色皿，使用DC10-10支架，其具有标准的50x75mm连接杆，用它插入fsm红外傅里叶光谱仪的PK50-75比色皿的支架中。

DT13支架设计为通过直径为13mm的片剂的机械夹具固定，从粉末状固体样品和KBr晶体的混合物中压缩。

它用于测量厚度在纳米范围内的非常薄的涂层，并研究单分子层。

该设备用于高精度测量火电厂和核电厂工艺水中的二氧化硅，用于监测各个行业的水处理过程。 该设备基于光度测量方法并自动配量试剂。 MAPK-1202不仅可以用作自动分析仪，还可以用作实验室分析仪。 俄罗斯联邦境内交付的 24 个月保修期。 多线程分析的可能性 1 至 6 个通道 电流输出，数字接口 RS-485 用于自动和实验室控制的通用分析仪 最少的维护 自诊断 校准频率不超过每 3 个月一次 运营成本低 俄制试剂 简单、直观的界面 彩色触摸屏