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它用于研究用KBr压缩成小直径片剂的样品（该方法便于粉状物质的光谱分析-前缀允许您使用手动压力机使用少量样品来制造片剂）。 *聚焦光斑直径小于3毫米 *设计中使用抛物面镜光学 *窗口-基板可以放置在前缀后，糊状，液体物质或提取物施加到他们，然后干燥的层 *使用有限–用于研究尺寸小于5毫米的整个样品（最好使用垂直型微聚焦附件）

FSM2211基于Fsm2211光谱仪，这是一种迈克尔逊型干涉仪，具有自补偿功能，无需动态调整。 技术规格: 光谱范围，cm-1 3700-12500 光谱分辨率，cm-12 信噪比（在2100-2200cm-1范围内测量时间为1min，分辨率为4cm-1）>60,000 获得一个全谱的最小时间小于，具有1 基于Ge的多层涂层CaF2分束器 辐射源是卤素灯 InGaAs光电二极管检测器Si光电二极管 比色皿隔间的尺寸，150x190x170mm 外形尺寸,520x370x250mm 重量， 28公斤。

它设计用于通过在集成和外部监视器上同时可视化微物体的干扰全内反射方法以及在样品上部位置入射角为45o的镜面漫反射方法进行测量。 单个NIP模式中的前缀用于登记吸收光谱: 任何粘度的液体(溶液、悬浮液、油等).)，包括具有高化学活性的那些; 任意形状的固体物体，包括具有非常高硬度的样品（任何聚合物，油漆涂层的碎片等。); 粉状物质，包括具有非常高硬度的粉末（药物，药品，爆炸物，无机化合物）; 薄膜形式的样品; 纤维形式的样品。 金刚石的最大硬度和耐化学性显着扩展了该方法的可能性;不需要定期更换晶体。 机顶盒允许您注册光谱，而无需耗时的样品制备，并且具有高品质摄像机和内置高清微型监视器的研究表面视觉检测系统的存在提高了处理小样品时的效率-细纤维碎片，微粒等。 内置监视器具有数字10倍变焦，反相等功能。 图像可以同时显示在计算机屏幕上（使用USB接口），然后保存为文件。 可拆卸法兰提供了一个快速和方便的样品更换和清洁晶体表面。 在NPVO的基础平面上方突出金刚石元件的设计允许您研究具有足够大的整体尺寸的样品。 由于没有物质层厚度对光谱形状和吸收带强度的影响，结果的高质量和可重复性得以实现。 样品保留了其原始的物理化学性质，如果需要，可以通过其他方法进一步研究。 通用附件夹配有一个精密杠杆机构，用于快速降低尖端和一个千分尺螺钉，允许您预先设置最佳的压力程度–这确保快速更换样品和测量结果的重复性。 为了方便处理液体和糊状样品，以及在ZDO模式下，可以将夹紧控制台旋转180o。该控制台配有两个可更换的尖端-一个球形工作部件和一个平铰头。 金刚石的高硬度允许使用大的夹紧力，这是获得高质量光谱的决定因素。 替换表用于登记镜面和漫反射光谱。 样品向下位于被调查表面的被调查平面上。 该方法用于测定光学零件、表面薄膜、晶体和其他任意形状和大小的大型固体物体的光谱特性。

对于气体比色皿KG48，使用直径为22mm的窗口。 您可以从KBr和CaF2购买windows。

多通道气体比色皿KG48专为测定阈值<1ppm的气体中的杂质而设计。 光路长度为0.8-4.8m，变化步长为0.8m。 波纹管阀门。 窗户Ø22毫米，材料：kbr与防潮涂层或CaF2。 比色皿的体积为2.4升。

它们用于研究液体，包括低浓度的溶液 *有一个可折叠的设计，允许您使用提供的不同厚度的垫圈 *窗口材料-ZnSe（可以从SiO2和KBr订购窗口） *垫片材料-特氟龙（氟塑料） *垫片厚度–0.022mm，0.1mm等

它旨在用于制备由测试物质与微晶溴化钾（KBr）混合物组成的压缩片剂形式的样品。 模具与液压机GP200-13结合使用。 -模具采用优质合金硬化钢制成 -为了获得KBr更好的压缩片剂，可以使用预真空泵将模具泵出。 客户可以独立购买泵，也可以从NPF"SIMEX"订购。 大多数研究都不需要泵出模具。 -该套件包括一个特殊的分配器，用于将最佳量的压制混合物放入模具中 -要将成品样品安装在光谱仪中，使用KBr片剂和D13mm基板窗口的支架

DT13支架设计为通过直径为13mm的片剂的机械夹具固定，从粉末状固体样品和KBr晶体的混合物中压缩。

为了在测量过程中达到最大的灵敏度，FT-801傅立叶光谱仪使用了一个特殊的前缀，FT-801傅立叶光谱仪是一个内置高灵敏度MST探测器的光学单元，用液氮冷却。 机顶盒安装在光谱仪的比色皿仓内并与相应的外部电端口连接，探测器以编程方式开启。 法的灵敏度增加很多倍–高达20）-取决于光谱仪中标准非制冷探测器的类型）。 记录光谱的速度也在增加。 用液氮填充低温恒温器（200毫升容量）后的操作时间至少为6小时。 在许多应用中，使用带有MST检测器的前缀来增加光谱仪的灵敏度可能是必需的：在光纤光谱学中，当记录低功率发射器的发射光谱时，在具有高光谱分辨率的痕量气体分析中，当确定超低浓度样品中存在杂质时，当使用多通气体比色皿等。 在图片中：在比色皿隔间的左侧有一个带有来自德国柏林Art photonics GmbH的光纤的开普勒，右侧有一个带有MST探测器的前缀。 技术规格 配准光谱时推荐的扫描次数为16 50次扫描时的频谱配准时间（分辨率4cm-1），sec20 低温恒温器容量，200毫升 填充低温恒温器后的工作时间，6小时 外形尺寸,mm225×175×75 重量,kg1.45

用于监测半导体晶片参数的测试仪FSM1201P允许按照操作者设定的程序，自动测量放置在测量台上的直径为76、100、125、150和200毫米的平面平行抛光硅晶片。 一点的标准测量时间不超过20秒。 主要受控参数: 间质氧的浓度(板厚0.4-2.0mm)内(5×1015-2×1018)±5×1015 sm-3(半MF1188); 取代碳浓度(板厚0.4-2.0mm)范围:(1016-5×1017)±1016cm-3(半MF1391); 硅片中氧分布的径向不均匀性(半MF951); n-n+和p-p+类型的硅结构的外延层的厚度在(0.5–10.0)±0.1微米、(10-200)±1%微米(SEMI MF95)的范围内; CNS结构中外延硅层的厚度在(0.1-10.0)±1%微米范围内; FSS层中的磷和bfss层中的硼/磷的浓度在(1-10)±0.2重量％以内。

它用于快速分析各种类型的固体和液体样品，包括聚合物颗粒、薄膜和纤维、粉状物质、油漆涂层碎片、燃料和润滑剂。 用于对所研究表面进行视觉检查的光学系统的存在增加了75x，确保了在处理小样品时的高效率-薄纤维的碎片，微粒等。 通用夹具配有一个精密杠杆机构，用于快速降低尖端和一个千分尺螺钉，允许您预先设置最佳的压力程度–这确保快速更换样品和测量结果的重复性。 为了方便处理液体和糊状样品，以及在ZDO模式下，可以将夹紧控制台旋转180o。该控制台配有两个可互换的尖端-一个球形工作部件和一个平铰头。 替换表用于登记镜面和漫反射光谱。 样品位于被调查表面的被调查平面上向下，中心光束在样品上的入射角为45°。 该方法用于测定表面光学零件、晶体、薄膜的光谱特性，以及对大型固体物体的吸收光谱进行配准。 在频谱的工作范围内传输，输入信号的%至少为30 配准光谱时推荐的扫描次数为25 25次扫描时的频谱配准时间（分辨率4cm-1），sec30 辐射穿透样品的深度，微米5–15 固体样品的最小面积，mm0.2×0.2 所研究液体的最小体积，ml1 纤维样品的最小尺寸：截面直径/长度，mm0.1/1 衬底晶体材料ZnSe CVD,Ge 聚焦光斑直径，mm1 Zdo模式下辐射（中心光束）在样品上的入射角45o 微透镜的放大倍数/视觉通道的总放大倍数4X/75X 光学系统的视场，mm2X2.5 数码摄像机分辨率640x480 外形尺寸,mm150×150×260 重量,kg2.15 *允许您研究小尺寸的物体（从200微米-取决于材料的几何形状，表面质量和物理化学性质） *附件允许您在没有样品准备的情况下工作，使用配备颜色指示器的夹具固定调整样品上的压力 •由于带有NPVO元件的可拆卸法兰，提供了快速方便的样品更换和晶体表面清洁 •在给定的最佳接触力下，由于物质层的厚度不影响光谱的形状和吸收带的强度，该方法提供了高质量和可重复性的结果 *样品保留其原始物理和化学性质，如有必要，可以通过其他方法进一步研究

以安装在FT-801光谱仪的比色皿隔室中的光学-机械附件的形式制成具有所研究液体的可调层厚度的液体比色皿。 它包含聚焦光学器件，两个直径为10mm的窗口基板的可拆卸支架和放置在控制台外壳的上面板上的两个调节螺钉，旨在设置窗口之间所需的间隙。 任何粘度程度的液体以小滴的形式预先施加到下部窗口，然后，在窗口平滑收敛的过程中，均匀地填充它们之间的间隙。 通过旋转调节螺钉并在线观察透射光谱，用户有机会设置所需的液体层厚度，由整个光谱的整体强度或由特定吸收带的强度引导。 在存在校准（使用ZaIR3.5程序对已知浓度的多个样品易于创建）的情况下，比色皿可进行定量测量。 比色皿在分析含有小比例杂质的混合物时是必不可少的。 技术规格 在频谱的工作范围内传输，输入信号的%至少为50 配准光谱时推荐的扫描次数为16 16次扫描时的频谱配准时间（分辨率4cm-1），sec20 研究液体的最小体积，mm31 焦点的直径，mm3 外形尺寸,mm200×90×160 重量,公斤1,1 该图显示了粘性润滑剂"Buxol"的几个光谱，说明了在窗口之间选择样品层厚度的过程。 测量过程具有较高的表达性和再现性，采用廉价的可更换衬底窗，系统易于配置和清洁，需要极少量的样品以获得高质量的光谱。