搜索

它旨在对各种类型的固体不透明样品进行快速分析，包括聚合物薄膜和碎片，油漆涂层，片剂形式的成品剂型，光学部件和半导体材料。 •样品位于被调查表面的被调查平面上向下，中心光束在样品上的入射角为45° *焦点的直径为3毫米 *允许您探索任何形状和大小的对象 •使用微型压力机时，它允许您在合金钢制成的镜板上以薄层的形式检查样品（辐射穿过物质层两次，从镜面反射） *不使用：用于研究散装和液体物质

设计用于制备直径达13mm的压缩片剂形式的样品，由与微晶溴化钾（KBr）的混合物中的测试物质组成。 -压力机的操作原理基于通过摆动杠杆在液压系统中注入压力。 -为了控制工作压力，压力机配有压力表 -配有压力机，可使用直径为13毫米及3.5毫米的模具 -在傅立叶光谱仪上研究成品样品时，使用KBr片剂支架和D13mm基板窗口或微聚焦附件（适用于3.5mm片剂）

FSM2211基于Fsm2211光谱仪，这是一种迈克尔逊型干涉仪，具有自补偿功能，无需动态调整。 技术规格: 光谱范围，cm-1 3700-12500 光谱分辨率，cm-12 信噪比（在2100-2200cm-1范围内测量时间为1min，分辨率为4cm-1）>60,000 获得一个全谱的最小时间小于，具有1 基于Ge的多层涂层CaF2分束器 辐射源是卤素灯 InGaAs光电二极管检测器Si光电二极管 比色皿隔间的尺寸，150x190x170mm 外形尺寸,520x370x250mm 重量， 28公斤。

设计用于制备直径为3.5mm的压缩片剂形式的样品，由测试物质与微晶溴化钾（KBr）的混合物组成。 -设备的运作的原则根据创造压的必要的压力由于一个机械杠杆系统 -压力机采用优质合金硬化钢制成 -制造直径为3.5毫米的片剂时，需要最少量的测试物质及KBr -对于在傅里叶光谱仪上研究成品样品，使用垂直或水平微聚焦前缀

它用于研究用KBr压缩成小直径片剂的样品（该方法便于粉状物质的光谱分析-前缀允许您使用手动压力机使用少量样品来制造片剂）。 *聚焦光斑直径小于3毫米 *设计中使用抛物面镜光学 *窗口-基板可以放置在前缀后，糊状，液体物质或提取物施加到他们，然后干燥的层 *使用有限–用于研究尺寸小于5毫米的整个样品（最好使用垂直型微聚焦附件）

为了在FSM光谱仪中安装CFK类型的石英比色皿，使用DC CFK支架，其具有标准的50x75mm连接杆，用该连接杆将其插入红外傅里叶光谱仪FSM的PK50-75比色皿的

对于气体比色皿KG48，使用直径为22mm的窗口。 您可以从KBr和CaF2购买windows。

单通和多通比色皿用于气体混合物的定性和定量分析。 多通比色皿的使用使得可以自信地检测所研究气体中极小浓度的组分（小于ppm单位）。 •提供三种比色皿: 1. 单通道，行程长度为100毫米，玻璃体和窗户由ZnSe、KBr、NaCl制成 2. 多通，光束行程长度可达几十米 3. 多通，光束行程长度可达几十米，配有工作腔的加热系统，最高可达200°C和热控制器 多通比色皿具有由石英玻璃制成的透明工作腔；具有金(99.999)涂层的反射镜在IR区域提供至少98%的反射系数；此外，比色皿可配备压力和温度传感器、用于控

SPEKTRAN-219分析仪的工作原理是基于在光谱的近IR区域测量研磨晶粒样品的漫反射系数。 根据测得的成分含量已知的谷物样品的反射数据，对分析仪进行校准，即计算出各成分的校准系数。 计算值存储在分析仪的内存中，然后用于产品分析。 技术规格 光谱范围,nm1400-2400 光谱测量误差 漫反射系数+/-5% 波长设定误差，nm+/-2.0 光谱测量的收敛性 漫反射系数为0.03% 外形尺寸,mm520x250x260 重量,公斤12

比色皿KR20设计用于研究吸收弱的液体样品，以及从固体样品制备的凡士林油中的悬浮液。 比色皿套装包括2个由fluoroplast制成的圆柱形嵌件：10和20mm。 窗户材料：KBr，CaF2，ZnSe。 窗户的尺寸为Ø40mm。

设计用于研究各种类型的固体样品，包括光学和半导体材料、宝石和其他任意形状的物体 •样品位于被调查表面的被调查平面上向下，中心光束在样品上的入射角为15° *允许您检查小尺寸的样品（测试区域的直径为1mm） •机顶盒配有一组可更换的膜片支架，用于不同尺寸的样品 •当使用微型压力机时，它允许您检查在由合金钢制成的镜板上滚出的薄层形式的样品（辐射穿过物质层两次，从镜面反射） *不使用：用于研究散装和液体物质

它用于使用红外显微镜和镜面反射前缀检查样品时的样品制备。 允许您将薄层（高达几微米）塑造成各种物体：聚合物碎片，LCP的微粒，粉状物质，纤维等。 由合金钢制成的镜板上产生的薄层通过双透射法进行研究-当已经穿过物质层的辐射从板的表面反射并再次穿过物质时。 用这种方法记录的光谱与例如用KBr压制物质后获得的透射光谱完全相同。 在这种情况下的优点是: -样品制备速度 -无需使用液压和手动压力机和模具，研磨砂浆等。 -无需使用高纯度KBr或凡士林油 -样品不会丢失，如有必要，可以通过其他方法进行检查 -当使用IR显微镜时，可以"扫描"所得薄层以选择最具信息性的区域，并且如果该层在组成上是异质的，则可以获得其组分的光谱特征。