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CFK分光光度计
CFK分光光度计
主要技术特点 波长范围,400-940 nm 范围由具有以下辐射波长的一组离散Led提供,400nm, 440, 470, 525, 590, 670, 770, 880, 940 测量范围: -SKNP, %; -光密度,B 控制范围: -光密度,B -浓度,单位conc。 1-100 0,03 -2 2 - 3 0,001-9999 SCNP测量中允许绝对误差的极限,±1% 测量光密度时允许绝对误差的限制: -在0.03至0.5b的范围内,B -在从0.51到1.09b,B的范围内 -在范围从1.1到2.0b,B ± 0,015 ± 0,045 ± 0,45 光度计由: -通过网络适配器从AC网络 -来自自主电源 电压220±22V 频率50.0±0.5Hz 四节AA电池,每节1.5v; 四节AA电池,每节1.2v 光度计消耗的功率,不超过7V*A 外形尺寸,不超过240x200x100mm 重量,不超过1.6公斤
ZOMZ
Sergiev Posad
生产于: 莫斯科地区, 谢尔盖耶夫镇
用于纸浆、悬浮液和溶液的X射线荧光波色散分析仪AR-35
用于纸浆、悬浮液和溶液的X射线荧光波色散分析仪AR-35
AR-35分析仪是一种全自动分析复合体,专为连续X射线荧光分析浆液和溶液的化学成分而设计。 该设备有一个移动软件控制的测量头,带有一个X射线管和固定的光谱通道(最多8个),每个通道都可以调整到任何化学元素(从Ca到U)。 在操作过程中,头根据给定的程序绕过多达15个流量比色皿,执行测量。 多通道(最多15个分析产品)。 与自动化系统兼容,用于采样,样品交付,处理和显示分析结果,组织存储分析数据的存档。 与工厂自动化过程控制系统的通信 高表达性、分析准确性、低检出限、分析的重现性。 可靠性高。 分析仪的工作原理是基于来自X射线管的辐射激发被研究物质原子的荧光辐射。 特定化学元素的荧光辐射由分析仪晶体释放,之后由X射线检测器记录具有一定波长的辐射。 所记录的某一波长的荧光辐射的强度与所研究物质中化学元素的质量分数成正比。
Burevestnik
municipal district of Kolomyagi
生产于: 圣彼得堡
通用X射线荧光能量色散光谱仪BRA-135F
通用X射线荧光能量色散光谱仪BRA-135F
RFA分析仪BRA-135F是一种能量色散光谱仪,通过它可以同时确定测试样品中多达二十种化学元素的存在–从9F到92U.分析的样品可以处于液体,固体,粉状 分析仪记录浓度为十分之一毫克/千克。 BRA-135f模型对钢和合金进行定量/半定量光谱分析。 该设备还对石油,石油和其他石油产品进行光谱分析,甚至确定其成分中各种金属杂质的最轻微浓度。 真空操作的测量室和超薄探测器输入窗口的存在确保了从9f到17cl的轻元素领域的低检测限。 能量分辨率小于135ev的高性能硅漂移探测器(SDD)允许分离几乎所有元素的谱线,这使得分析复杂的多组分物质(高合金钢,精密合金,多金属矿石等)成为可能。).
Burevestnik
municipal district of Kolomyagi
生产于: 圣彼得堡
专用波色散分析仪ARF-7
专用波色散分析仪ARF-7
根据Cauchy方案构建的专用波色散X射线荧光分析仪旨在高精度定量测定矿石,岩石和人造矿床中的U,Th,Mo,Au,W,Tl,As,Pb以及其他元素。 在不重新配置晶体分析仪的情况下确定元素组的能力。 超高分辨率的X射线光学方案根据柯西与石英1011晶体分析仪. 高级数学支持。 分析仪的操作原理是基于通过来自X射线管的辐射激发测试物质样品的原子的荧光辐射。 荧光辐射通过柯西法分解成光谱。 晶体分析仪聚焦的被检测元件的荧光辐射和标准线在罗兰焦圆上突出显示。 然后它们由X射线探测器依次登记。 所记录的某一波长的荧光辐射的强度与所研究物质中化学元素的质量分数成正比。
Burevestnik
municipal district of Kolomyagi
生产于: 圣彼得堡