ابحث

تم تصميم أجهزة تحليل امتصاص الأشعة السينية للكبريت في النفط SPECTROSCAN IS-T وIS لتحديد الجزء الكتلي من الكبريت في تدفق المنتجات النفطية/البترولية في النطاق من 0.02% إلى 6.00% (IS-T) أو 0.04% إلى 6.0% (IS). يمكن استخدام أجهزة التحليل للتحكم في العمليات أثناء نقل النفط وتخزينه، وكذلك أثناء عمليات الخلط (التركيب). يسمح تصميم المحللين بوضعهم بشكل مستقل وكجزء من وحدة قياس مؤشرات جودة الزيت (BIK) أو نظام لقياس كمية ونوعية النفط (SIKN). متوفر في إصدارات مقاومة للانفجار. تتمتع أجهزة التحليل بوظيفة الأخذ في الاعتبار تلقائيًا تأثير كثافة الوسط الذي تم تحليله، وكذلك محتوى الماء وأملاح الكلوريد فيه على نتيجة تحديد الجزء الكتلي من الكبريت. ومن الناحية الهيكلية، تعد أجهزة التحليل نتاجًا كاملاً للجاهزية العالية للمصنع، وتتميز بتصميم نموذجي وتتضمن جميع الأجهزة الوظيفية اللازمة لضمان التشغيل الفعال والآمن.

تم تصميم مطياف الرنين المغنطيسي للإلكترون المضغوط CMS8400 NEO لإجراء البحوث الروتينية في الفيزياء والكيمياء والبيولوجيا والمجالات العلمية ذات الصلة للكشف المباشر عن الجذور الحرة والمواد المغنطيسية. يمكن استخدامCMS8400 NEO في كل من الظروف المختبرية والصناعية في وضع القياس عبر الإنترنت (on-line) ، ودمجها في العمليات التكنولوجية ، وبالتالي ضمان التحكم في المعلمات والتفاعلات في عملية الإنتاج. يمكن للملحقات الإضافية والبرامج المعدلة أن تجعل مطياف الطيف أداة تحليلية ، وتسمح أيضا باستخدام هذه القاعدة لتنفيذ تطبيقات معقدة جديدة في الطب ، والبتروكيماويات ، والتخمير ، للتحكم الصحي والنظافة ، وكذلك في الصناعات الأخرى.

تم إنشاء مطياف وفقا لمخطط تشيرني تيرنر على أساس مقضب حيود مسطح ومحلل МАЭС مع خط واحد من أجهزة الكشف الضوئي. لقد زاد من الدقة الضوئية بسبب التبريد وتثبيت درجة الحرارة لنطاق الكاشف الضوئي ، وكذلك بسبب تصميمه الخالي من القشرة ، حيث لا يوجد إعادة انعكاس للإشعاع على زجاج الغطاء ومستوى الخلفية في الطيف المسجل ينخفض. تم تحسين المخطط البصري وتصميم مطياف الطيف للحصول على طيف عالي الجودة مع مستوى إشعاع خلفية منخفض في أي من المناطق الواقعة في النطاق الطيفي من 190-1100 نانومتر. يتم اختيار منطقة العمل عن طريق تغيير وتدوير شبكات الحيود. يتم تعبئة السكن مختومة من مطياف مع غاز خامل. يتم حقن الإشعاع في مطياف باستخدام مكثف الكوارتز أو كابل الألياف البصرية مع موصل SMA-905. يتم حماية المخطط البصري وتصميم مطياف بواسطة براءات الاختراع.

هو الحل الأمثل للعملاء الذين يحتاجون إلى تحليل سريع وخصائص تقنية عالية وموثوقية ودقة عالية لتحديد العناصر المكونة الكاملة من المنتجات المعدنية بأقل تكلفة ممكنة لشراء الجهاز وتنفيذه وتشغيله.

محلل AR-35 هو مجمع تحليلي مؤتمتة بالكامل مصممة لتحليل مضان الأشعة السينية المستمر للتركيب الكيميائي لللب والحلول في تيار. يحتوي الجهاز على رأس قياس يتم التحكم فيه بواسطة برنامج محمول مع أنبوب أشعة سينية وقنوات قياس طيفية ثابتة (حتى 8) ، يمكن ضبط كل منها على أي عنصر كيميائي (من Ca إلى U). أثناء التشغيل ، يتجاوز الرأس ما يصل إلى 15 كوفيت تدفق وفقا لبرنامج معين ، مع إجراء القياسات. متعدد القنوات (ما يصل إلى 15 منتجا تم تحليله). التوافق مع أنظمة التشغيل الآلي لأخذ العينات ، وتسليم العينات ، ومعالجة وعرض نتائج التحليل ، وتنظيم تخزين أرشيف بيانات التحليل. التواصل مع نظام التحكم الآلي في العمليات في المصنع التعبير العالي ، دقة التحليل ، حد الكشف المنخفض ، استنساخ التحليل. موثوقية عالية. يعتمد مبدأ تشغيل المحلل على إثارة الإشعاع الفلوري لذرات المادة قيد الدراسة عن طريق الإشعاع من أنبوب الأشعة السينية. يتم إطلاق الإشعاع الفلوري لعنصر كيميائي معين بواسطة بلورة محلل ، وبعد ذلك يتم تسجيل الإشعاع بطول موجي معين بواسطة كاشف الأشعة السينية. تتناسب شدة الإشعاع الفلوري المسجل بطول موجي معين بشكل مباشر مع الجزء الكتلي للعنصر الكيميائي في المادة قيد الدراسة.

تم تصميم محلل الكبريت تشتت موجة ASV-2 لقياس جزء كتلة الكبريت في البنزين (الخالي من الرصاص) ، وقود الديزل ، النفط ، الكيروسين ، بقايا النفط ، قواعد زيت التشحيم ، الزيوت الهيدروليكية ، وقود الطائرات ، النفط الخام وغيرها من المنتجات البترولية المقطرة. محلل تشتت الموجة من الكبريت يسمح لك لأداء وظائف الكشف عن الكبريت سواء في وضع فراغ من غرفة القياس وفي وضع تطهير الهيليوم. للقيام بذلك ، تم تجهيز الجهاز بمجموعة من الملحقات لتوصيل المحلل بمحطة الهيليوم.

يجمع مطياف مضان الأشعة السينية SPECTROSCAN MAX-GF1(2)E بين طريقتين لعزل الإشارة التحليلية: حيود البلورات (تشتت الموجة - WDX) وطريقة تشتت الطاقة (EDX). تم تصميم جهاز المطياف لتحديد محتوى العناصر في النطاق من Ca إلى U في المواد الصلبة والمسحوقة والمذابة وكذلك المطبقة على الأسطح أو المترسبة على المرشحات، وباستخدام القنوات الثابتة المشتتة للطاقة، يمكنك تحديد أي عنصر أو عنصرين إضافيين تتراوح من المغنيسيوم (Mg) إلى الكالسيوم (Ca). يعتمد مبدأ تشغيل جهاز المطياف على تشعيع عينة بالإشعاع الأولي من أنبوب الأشعة السينية، وقياس شدة إشعاع الفلورسنت الثانوي من العينة عند الأطوال الموجية المقابلة للعناصر التي يتم تحديدها، ثم الحساب اللاحق للجزء الكتلي من هذه العناصر. عناصر تستخدم خاصية معايرة تم إنشاؤها مسبقًا، والتي تمثل اعتماد محتوى العنصر الذي يتم تحديده على الكثافة المقاسة.

المحاسبة الفنية: المجهر: مجهر مباشر مع برج لـ 6 عدسات دقيقة ، مع إضاءة ديود للتشغيل في وضع المجال الفاتح/المظلم في الضوء المنعكس وكاميرا فيديو ملونة. يتم اختيار مجموعة العدسات بشكل فردي بناء على نوع العينات التي يتم قياسها. مطياف: مطياف عالي الأداء بموضع شبكي ثابت. بناء على نوع العينات التي يتم قياسها ، يتم اقتراح نوعين مختلفين من صريف الحيود لضمان النطاق المسجل الأمثل والدقة الطيفية. كاشف: كاشف خطي حساس للغاية. يتراوح نطاق الحساسية الطيفية من 200 إلى 1100 نانومتر. عدد البكسل: 4096, حجم البكسل: 7 * 200 ميكرون. الليزر: الليزر دبس مع الطول الموجي من 532 0 0.1 نانومتر ، قوة 50 ميغاواط. اختياري: ليزر ديود بطول موجة 785 0 0.1 نانومتر ، قوة 130 ميجاوات مع عازل بصري. الحساسية: الكشف عن ذروة السيليكون من الدرجة الثالثة. القرار المكاني: الجانبي (س ص) < 1 µ م ؛ محوري (ض) < 2 µ م. كاميرا الفيديو: لون (5 ميجابكسل على الأقل) مع إمكانية حفظ الصور على الكمبيوتر. عينة المسح الضوئي: اختياري. الدقة الآلي هو الجدول مع مجموعة من الحركات من 100 * 75 ملم والحد الأدنى من الملعب من 100 نانومتر.

تم تصميم مقياس الطيف لتحديد محتوى العناصر في النطاق من Na إلى U في المواد الصلبة والمسحوقة والمذابة، وكذلك تطبيقه على الأسطح أو ترسيبه على المرشحات. يعتمد مبدأ تشغيل مطياف الأشعة السينية على تشعيع عينة بالإشعاع الأولي لأنبوب الأشعة السينية، وقياس شدة إشعاع الفلورسنت الثانوي من العينة عند الأطوال الموجية المقابلة للعناصر التي يتم تحديدها، ثم الحساب اللاحق لـ الجزء الكتلي من هذه العناصر باستخدام خاصية المعايرة التي تم إنشاؤها مسبقًا، والتي تمثل اعتماد محتوى العنصر الذي يتم تحديده على الكثافة المقاسة. يتحلل إشعاع الفلورسنت الثانوي إلى طيف باستخدام بلورة محلل. وبفضل هذا، يتمتع مطياف الأشعة السينية بدقة عالية، وبالتالي القدرة على تحليل المواد المعقدة متعددة المكونات بدقة.

المواصفات الفنية: مدة نبض التفريغ هي 150 ميكروثانية ... قوس ثابت. تردد 50...250 هرتز القطبية مباشرة ، عكسية ، ثنائية القطب نطاق التركيزات المقاسة 0.001 ٪ - عشرات % من العناصر في المواد خطأ نسبي (اعتمادا على 0.5٪. من التركيز) 0%

وحدة الكشف عن نوع الطيف الذكي АТ1320В: إمكانية المراقبة الإشعاعية للفطر والتوت في وعاء سعة 10 لترات في 20 ثانية :АТ1320С أثناء القياسات ، يتم إجراء تحليل أولي لتكوين النويدات المشعة للعينة.يتم حساب النشاط بناء على نتائج تحديد النويدات المشعة الموجودة في العينة الخاضعة للرقابة الدعم المنهجي للقياسات

المواصفات الفنية: الحساسية: الكشف عن ذروة السيليكون من الدرجة الثالثة القرار المكاني: الجانبي (س ص) < 1 أوشم محوري (ض ) < 2 µ م الحد الأدنى من خطوة المسح من جدول رسم الخرائط 2 د: 100 نانومتر كاميرا المراقبة بالفيديو: ملونة (5 ميجابكسل على الأقل) مع إمكانية حفظ الصور على الكمبيوتر