ابحث

تعيين: سول 0,3.4/13 درجة الحرارة: 1300 التحكم: ترم-10 عدد المناطق: 1

تعيين تشو (ح)-17 / 11 السلطة ، كيلوواط ، لا أكثر من 8 امدادات التيار الكهربائي ، الخامس 380 التردد ، هرتز 50

التسمية سنو (ح)-40 / 11 السلطة ، كيلوواط ، لا أكثر من 8 امدادات التيار الكهربائي ، الخامس 380 التردد ، هرتز 50

الجاذبية-التخصيب بالطرد المركزي للخامات المسحوقة أو الرمال التي تحتوي على جزيئات دقيقة ودقيقة من المعادن الثمينة الحرة أو المعادن الأخرى ذات الثقل النوعي العالي.

الجاذبية-التخصيب بالطرد المركزي للعينات المعدنية (الخامات والرمال المسحوقة) التي تحتوي على جزيئات من المعادن الثمينة والمعادن الأخرى ذات الثقل النوعي العالي.

محلل МАЭС هو وسيلة حديثة لقياس شدة الخطوط الطيفية ومن ثم حساب تركيزات العناصر التي سيتم تحديدها.

التسمية الولايات المتحدة الأمريكية-4.8 / 11 الطاقة ، كيلوواط 42 القطر ، مم 400 الارتفاع ، مم 400

يحتوي فرن المقاومة الكهربائية للغرفة مع موقد ثابت على الميزات التالية: * وجود بطانة مدمجة لحماية السخانات من تأثيرات القفص: الطبقة الداخلية للبطانة مصنوعة من طبقة واحدة من طوب النار (باستثناء القبو) ؛ الطبقة الثانية من البطانة على الجدران الجانبية ، وكذلك بطانة القبو والمخمدات مصنوعة من مادة ليفية عالية الحرارة * سخانات مصنوعة من سبائك Kanthal A-1 المقاومة * نظام التحكم القائم على وحدة تحكم الصناعية مع القدرة على تصور وأرشفة البيانات * رفرف ميكانيكي

وهي مصممة للتحقيقات المعقدة للخصائص الفيزيائية للسطح بطرق الفحص المجهري البصري الكلاسيكي ، الفحص المجهري بالليزر متحد البؤر ، التحليل الطيفي متحد البؤر والمسح المجهري للمسبار (الفحص المجهري للقوة الذرية). . فإنه يسمح الحصول على أطياف كاملة من رامان (رامان أو رامان) تشتت و/أو مضان ، ليزر متحد البؤر والصور الطيفية متحد البؤر (رسم الخرائط السطحية) ، СЗМ (АСМ) الصور. تصميم مجمع Centaur Duos يسمح باستخدام كل من تقنيات منفصلة (على سبيل المثال ، المجهر متحد البؤر/التحليل الطيفي) والجمع بين التقنيات (بما في ذلك الجمع بين حقول المسح ، АСМ/Раман الدراسات ، الخ.). المجهري). . فإنه يسمح الحصول على أطياف كاملة من رامان (رامان) تشتت و/أو مضان ، ليزر متحد البؤر والصور الطيفية متحد البؤر (رسم الخرائط السطحية) ، СЗМ (АСМ) الصور. تصميم مجمع Centaur Duos يسمح باستخدام كل من تقنيات منفصلة (على سبيل المثال ، المجهر متحد البؤر/التحليل الطيفي) والجمع بين التقنيات (بما في ذلك الجمع بين حقول المسح ، АСМ/Раман الدراسات ، الخ.).

مسح المجهر التحقيق (СЗМ) جنبا إلى جنب مع المجهر الضوئي المباشر من فئة البحوث. الغرض منه هو البحث عن طريق طرق الفحص المجهري للقوة البصرية والذرية. Certus XYZ СЗМ المسح رئيس ل أفم التصوير (التضاريس بشكل عام) و/أو تحديد المواقع من التحقيق بالنسبة إلى سطح العينة; جهاز تحديد المواقع والمسح الضوئي(XY(Z) بيزوستوليك) Ratis لتحديد المواقع العينة بالنسبة إلى مجال الرؤية من المجهر و/أو مسح العينة; مجهر بصري مباشر (Olympus BX 51 كمعيار) لعرض موضوع البحث وتوجيه المسبار إلى موضوع البحث أو وضع العينة بالنسبة إلى مجال رؤية المجهر; الميكانيكية Z الحركة للعدسة; حركة بيزو أحادية المحور للعدسة المتجهة للحصول على دقة تركيز إضافية, التركيز التلقائي والطبقات واسعة المجال 3d الصور; جهاز تحديد المواقع عينة لاختيار منطقة على سطح أو في وحدة تخزين; وحدة تحكم واحدة على سبيل EG-3000 للتحكم في جميع أجزاء المجمع; برنامج NSpec.

التسمية الولايات المتحدة الأمريكية-12.13 / 11 الطاقة ، كيلوواط 90 القطر ، مم 1200 الارتفاع ، مم 1300