ابحث

على الرغم من الاكتناز وسهولة التشغيل ويدعم جميع المنهجية الأساسية لمجهر القوة الذرية ومجهر المسح والنفق ، وبالتالي فإنه يمكن استخدامها لأي مجهر القوة الذرية الروتينية و مجهر المسح النفقي والتجارب في البحث العلمي. على سبيل المثال ، يتم عرض نتائج بعض التجارب في مختلف التطبيقات العلمية: التحقيق في الهياكل الذرية التحقيق في الهياكل النانوية المعدنية التحقيق في الهياكل المغناطيسية البحث عن كائنات البوليمر البحث عن الأشياء البيولوجية البحث في المواد النانوية الكربونية

تم تصميم مجمع Certus Optic I للعمل مع تقنيات الفحص المجهري للقوة البصرية والذرية في دراسة الأجسام البيولوجية وأفلام البوليمر. Certus XYZ СЗМ المسح رئيس ل أفم التصوير (التضاريس بشكل عام) و/أو تحديد المواقع من التحقيق بالنسبة إلى سطح العينة; جهاز تحديد المواقع والمسح الضوئي(XY(Z) بيزوستوليك) Ratis لتحديد المواقع العينة بالنسبة إلى مجال الرؤية من المجهر و/أو مسح العينة; مجهر بصري مقلوب كلاسيكي لعرض موضوع البحث وتوجيه المسبار إلى موضوع البحث أو وضع العينة بالنسبة إلى مجال رؤية المجهر; جهاز تحديد المواقع عينة لاختيار منطقة على سطح أو في وحدة تخزين; كاميرا فيديو رقمية لتصور الصورة المرصودة على الكمبيوتر والتقاط الصور; وحدة تحكم СЗМ موحدة EG-3000 للسيطرة على جميع أجزاء المجمع; برنامج NSpec.

مسح المجهر التحقيق (СЗМ) جنبا إلى جنب مع المجهر الضوئي المباشر والمقلوب من فئة البحوث. الغرض منه هو البحث عن طريق طرق الفحص المجهري للقوة البصرية والذرية. Certus XYZ СЗМ المسح رئيس ل أفم التصوير (التضاريس بشكل عام) و/أو تحديد المواقع من التحقيق بالنسبة إلى سطح العينة; جهاز تحديد المواقع والمسح الضوئي(XY(Z) بيزوستوليك) راتيس لتحديد المواقع العينة بالنسبة إلى مجال الرؤية من المجهر و/أو مسح العينة; مجهر بصري مباشر (Olympus BX 51 كمعيار) لعرض موضوع البحث وتوجيه المسبار إلى موضوع البحث أو وضع العينة بالنسبة إلى مجال رؤية المجهر; مجهر بصري مقلوب (Olympus IX 71 كمعيار) لعرض موضوع البحث وتوجيه المسبار إلى موضوع البحث أو وضع العينة بالنسبة إلى مجال رؤية المجهر; الميكانيكية Z الحركة للعدسة; حركة بيزو أحادية المحور للعدسة المتجهة للحصول على دقة تركيز إضافية, التركيز التلقائي والطبقات واسعة المجال 3D الصور; جهاز تحديد المواقع عينة لاختيار منطقة على سطح أو في وحدة تخزين; وحدة تحكم واحدة على EG-3000 للتحكم في جميع أجزاء المجمع; برنامج NSpec.

التكوين الأساسي لمجهر مسبار المسح Certus ، المصمم لحل مجموعة واسعة من المهام البحثية والتحليلية. مسح الطائرة موازية على طول X, Y,Z محاور يسمح لك للحصول على صورة من السطح وتنفيذ تحرير الصور اللاحقة مع الحد الأدنى من التشويه وفقدان المعلومات; المسح الضوئي مع كل من التحقيق (الماسح الضوئي التقليدي داخل رأس المسح Certus) والماسح الضوئي عينة شيز فائق السرعة. يحل الاتصال المتوازي للمستوى للمسبار بالعينة مشكلة التوصيل اليدوي الشاق للمسبار بالعينة. يتم التوريد بواسطة ثلاثة دعامات آلية; يجعل التصميم المفتوح لرأس المسح من الممكن مراقبة سطح عينة الاختبار بزاوية 0-90° ، وتثبيت أجهزة ومعدات إضافية; يسمح التكوين المعياري بتثبيت مجهر مسبار المسح القياسي في Certus Standard على المجاهر الضوئية التقليدية (المباشرة أو المقلوبة) ، جنبا إلى جنب مع الأجهزة البصرية وترقيتها إلى تعديلات Certus Optic и Centaur.; وقد نفذت التقنيات الأساسية لإدارة السياسات الخاصة. لتغيير وضع تشغيل مجهر مسبار المسح (على سبيل المثال ، التبديل من التشغيل في وضع مجهر القوة الذرية إلى وضع مجهر المسح النفقي) ، يكفي تغيير حامل المسبار.

وهي مصممة للتحقيقات المعقدة للخصائص الفيزيائية للسطح بطرق الفحص المجهري البصري الكلاسيكي ، الفحص المجهري بالليزر متحد البؤر ، التحليل الطيفي متحد البؤر والمسح المجهري للمسبار (الفحص المجهري للقوة الذرية). فإنه يسمح الحصول على كامل رامان (رامان أو رامان) تشتت و/أو أطياف مضان ، ليزر متحد البؤر والصور الطيفية متحد البؤر (رسم الخرائط السطحية) ، СЗМ (АСМ) الصور. تصميم مجمع Centaur U يسمح باستخدام كل من تقنيات منفصلة (على سبيل المثال ، المجهر متحد البؤر/التحليل الطيفي) والجمع بين التقنيات (بما في ذلك الجمع بين حقول المسح ، АСМ/Раман الدراسات ، الخ.).

وهي مصممة لإجراء دراسات شاملة لخصائص السطح باستخدام الفحص المجهري البصري والتحليل الطيفي والمسح المجهري للمسبار. انها تسمح للحصول على كامل تشتت رامان و / أو أطياف مضان ، ليزر متحد البؤر والصور الطيفية متحد البؤر (رسم الخرائط السطحية) ، صور СЗМ. تصميم مجمع Centaur I HR يسمح لك للعمل مع كل من تقنيات منفصلة (على سبيل المثال ، المجهر القوة الذرية) والجمع بين التقنيات (АСМ-Раман ، ليزر متحد البؤر و АСМ).

NTEGRA Prima تنفذ عدة طرق المسح الضوئي: عينة المسح الضوئي ، التحقيق المسح الضوئي والمسح المزدوج. في هذا الصدد ، يعد النظام مثاليا لفحص العينات الصغيرة ذات الدقة العالية جدا ، وكذلك العينات الكبيرة في نطاقات المسح حتى 100 * 100 * 10 ميكرون. يسمح الوضع الفريد *DualScan * بالقياسات في الحقول الكبيرة (200-200 ميكرون في المستوى الأفقي و 22 ميكرون في الاتجاه الرأسي) ، والتي يمكن أن تكون مفيدة في دراسة الخلايا الحية ومكونات الأنظمة الكهروميكانيكية الدقيقة. تقوم مستشعرات التحكم في التغذية المرتدة السعوية المدمجة بثلاثة محاور بتتبع الإزاحة الحقيقية للماسح الضوئي وتعويض العيوب الحتمية للسيراميك ، مثل اللاخطية والزحف والتباطؤ. للتلاعب وأنماط الطباعة الحجرية ، والتنسيق الدقيق من ناتئ في حقول صغيرة تصل إلى 10 1 10 نانومتر مطلوب ، والتي يتم توفيرها من قبل أجهزة الاستشعار المثبتة في АСМ NTEGRA Primaمع نسبة إشارة إلى الضوضاء عالية. NTEGRA Prima لديه المدمج في نظام بصري مع قرار من 1 أوكتم ، والتي من الممكن لمراقبة عملية المسح في الوقت الحقيقي

مسح مطياف رامان متحد البؤر مع خيار СЗМ الأبعاد المدمجة أتمتة كاملة للنظام التصميم الأصلي من مطياف فتحة عالية للجهاز مع الحد الأدنى من الخسائر البصرية. يتم تصنيع الدائرة متحد البؤر وفقا للمخطط الأصلي ، وتوفر أبعادا مدمجة وأقل انجرافات للعناصر البصرية. يوفر المجهر الضوئي المدمج البحث عن موقع مناسب للقياسات. تستخدم المكونات الميكانيكية الدقيقة والبصريات في التصميم. يمكن استخدامه في كل من المختبرات الصناعية والجامعات البحثية.

NT-MDT Spectrum Instruments هو NTEGRA Nano IR (الأشعة تحت الحمراء)مجهر النثر المسح بالقرب من المجال الضوئي (s-SNOM) مصممة لمجموعة الطيف الأشعة تحت الحمراء. يقع مسبار مجهر القوة الذرية في بؤرة نظام بصري يوجه أشعة الليزر IR (الأشعة تحت الحمراء) إلى العينة ويجمع الاستجابة البصرية. يتم إرسال الإشعاع الذي تم جمعه إلى مقياس تداخل ميكلسون للتحليل البصري. يتم قمع مكون المجال البعيد للإشارة المجمعة عن طريق الكشف المتزامن. يسمح NTEGRA Nano IR باكتشاف اتساع وطور إشارة المجال القريب. تبلغ الدقة المكانية للانعكاس الناتج وتناقضات الامتصاص حوالي 10 نانومتر ويتم تحديدها فقط من خلال حجم طرف المسبار.

NTEGRA Spectra II هو بالفعل الجيل الثاني من نظام القياس الذي يوضح توحيد عالمين بنجاح: التحيل الطيفي لرومانف و مجهر القوة الذرية. من رسم الخرائط الإغاثة إلى التحليل الطيفي من دراسات الخواص الكهربائية والميكانيكية للقياسات البصرية مع قرار أقل من حد الحيود. الآن يمكن للعلماء إجراء تحليل فيزيائي كيميائي كامل للخصائص السطحية للعينة في وقت واحد. نتيجة لذلك ، يتمتع الباحثون بفرص غير محدودة لتطوير تقنياتهم المختبرية.

NTEGRA Spectra يدعم معظم أساليب القوة الذرية المتاحة حاليا (أكثر من 30) ، والتي تسمح بإجراء البحوث مع قرار نانومتر. يوفر استخدام مجموعة من هذه الطرق معلومات كاملة حول الخصائص السطحية العديدة للعينة ، مثل: الإغاثة ، والمغنطة ، والجهد الكهربائي وتشغيل الإخراج ، وقوة الاحتكاك ، والاستجابة الكهروإجهادية ، والمرونة ، والسعة ، وانتشار التيار وغيرها الكثير. تتيح لنا إمكانية إجراء دراسات القوة الذرية المتزامنة لنفس منطقة العينة باستخدام التحليل الطيفي متحد البؤر وطرق تحليل التألق الحصول على بيانات حول التركيب الكيميائي ، والبنية البلورية وتوجهها ، ووجود الشوائب والعيوب ، وشكل الجزيئات الكبيرة ، إلخ. تسمحNTEGRA Spectra بالقياسات القائمة على المجاهر الضوئية المباشرة والمقلوبة. يمكن وضع العينة في جو متحكم فيه أو في وسط سائل عند درجة حرارة متغيرة.

دخول مستوى المسح المجهر التحقيق (СЗМ) مسح الطائرة موازية على طول X, Y,Z ض محاور يسمح لك للحصول على صورة من السطح وتنفيذ تحرير الصور اللاحقة مع الحد الأدنى من التشويه وفقدان المعلومات; يجعل التصميم المفتوح لرأس المسح من الممكن مراقبة سطح عينة الاختبار بزاوية 0-90° ، وتثبيت أجهزة ومعدات إضافية; يسمح لك التكوين المعياري بتثبيت مجهر مسبار المسح Certus Light على المجاهر الضوئية التقليدية (المباشرة أو المقلوبة) ، والجمع بين الأجهزة البصرية وترقية هذا الجهاز إلى التعديلات